M-3230正置透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，
透反射照明採用“柯勒”照明系統，視場清晰。可用於半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業
試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.
檢查過程：開啟顯微鏡電源開關，將製作好的微切片放于顯微鏡平
臺上，選用40X物鏡，觀察微切片並且讀數。5X、10X、20X、60X、80X物鏡只用於參考或其它的測量。
性能特點
▲ 採用無限遠光學系統及模塊化功能設計。
▲ 長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。
▲ 廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。
▲ 粗微動同軸調焦機構，粗動鬆緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉。
▲ 上光源採用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，下光源採用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。
▲ 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可100%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。
